CXT2661手持式四探針測(cè)試儀

CXT2661手持式四探針測(cè)試儀

CXT2661手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試材料方阻/電阻/電阻率的多用途綜合測(cè)量裝置儀器。本儀器采用高性能微處理器，用基準(zhǔn)電源和運(yùn)算放大器組成高精度穩(wěn)流源；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測(cè)量速度快、寬量程、精度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高的特點(diǎn)。該儀器內(nèi)置的大容量鋰電池以及低功耗設(shè)計(jì)，使得儀器能長(zhǎng)時(shí)間進(jìn)行方便而的方阻/電阻率測(cè)量，所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入并保存；手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選。

CXT2661手持式四探針測(cè)試儀應(yīng)用
　　儀器可根據(jù)客戶需要配置不同的測(cè)試探頭，測(cè)量半導(dǎo)體材料、柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、太陽能材料、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等材料的電阻率/方阻，也可使用電阻測(cè)試夾具直接測(cè)量電阻器電阻、開關(guān)接觸電阻等。 本儀器采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用！
　　儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校等研究生產(chǎn)單位對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料、類半導(dǎo)體材料、器件的導(dǎo)電性能的測(cè)試，滿足對(duì)材料(棒材、片材等)和導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)量的需要。

成套組成

　　由CXT2661主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測(cè)試臺(tái)。

探頭選型指南

　　根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等材料的電阻率/方阻。
　　由于新型薄膜材料種類繁多，研制過程中樣品性能變化較大，而且各種薄膜的機(jī)械強(qiáng)度，允許承受的電壓、電流均不相同，因此該儀器可為用戶量身定制各種特定探針壓力及曲率半徑的探針頭。
　　根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。詳細(xì)請(qǐng)見探頭選型表。

CXT2661手持式四探針測(cè)試儀探頭選型表

CXT2661手持式四探針測(cè)試儀性能特點(diǎn)
1、32位核心處理器，測(cè)量精度高、穩(wěn)定性好
2、大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰
3、高精度：電阻基本精度：0.1％   方阻基本精度：5 ％  電阻率：5 ％
4、測(cè)量范圍寬： 電阻：10-3Ω－2*104Ω 
方阻：10-3Ω/□－105Ω/□ 
電阻率：10-3Ω.cm－105Ω.cm
5、可手動(dòng)或自動(dòng)選擇測(cè)試量程
6、正反向電流源修正測(cè)量誤差
7、材料厚度可預(yù)設(shè)，自動(dòng)修正樣品電阻率，無需查表
8、全量程自動(dòng)清零功能
9、采用采用6000mAH鋰電電池供電，一次充電可長(zhǎng)時(shí)間使用.
10、3檔分選功能，1檔合格,1檔超上限,1檔超下限
11、適合各種測(cè)試探頭，可測(cè)多種材料和參數(shù)

CXT2661手持式四探針測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)

 

 

標(biāo)準(zhǔn)配件

 

可選配件